20 февраля 2019 г.
13 февраля специалисты ООО "ЦИФ МГУ имени М.В. Ломоносова" приняли участие в практическом семинаре «Контроль качества изготовления радиоэлектронной и микроэлектронной продукции по электрическим параметрам в современных экономических условиях. Примеры оснащения предприятий, метрологическое и технологическое обеспечение», организованном ООО «Остек-Электро».
Тематика семинара заинтересовала более 70 представителей российских организаций, занимающихся разработкой и производством электронной техники.
На семинаре также выступил руководитель проектов ООО "ЦИФ МГУ имени М.В. Ломоносова" Артём Малахов с докладом о возможностях применения метода аналогового сигнатурного анализа для локализации неисправностей на платах и выявления неисправных компонентов с использованием нашей системы сигнатурного анализа EyePoint P10. Тема доклада вызвала интерес у слушателей – по окончании доклада к выступлению подключился Сергей Елизаров, генеральный директор ООО "ЦИФ МГУ имени М.В. Ломоносова", поддержал обсуждение и ответил на все вопросы аудитории. После выступлений активное обсуждение продолжилось в демонстрационном зале ООО «Остек-Электро», где мы представили EyePoint P10.
Выражаем благодарность нашим партнёрам из ООО «Остек-Электро» за организацию мероприятия на высоком уровне и всем гостям семин
ара за интересный диалог!
