Технический директор ЦИФ МГУ Сергей Запуниди выступил с докладом "Входной контроль дешевле диагностики" в рамках выставки Электроника России 2023, проходившей 28-30 ноября в Москве, в МВЦ "Крокус Экспо". Во время доклада была затронута проблема качества компонентов в период санкций и кризиса полупроводников, рассмотрены существующие пути решения проблемы, а также предложен новый – с помощью сигнатурного анализа. Слушатели узнали о линейке приборов EyePoint и о комплексном решении для серийных изделий на основе мультиплексора EyePoint MUX, ознакомились с ценами. Такое решение смогло привлечь внимание разработчиков электроники, ведь оно сокращает время работы, а стоимость сопоставима с парой недель работы специалиста.
Предлагаем Вам ознакомиться с презентацией по ссылке.
Также процесс проведения входного контроля плат с помощью сигнатурного анализа с использованием мультиплексора показан в нашем видео на youtube.