Назад к списку

Практический семинар в ООО «Остек-Электро» 3 марта 2020

3 марта в ООО «Остек-Электро»  прошел практический семинар «Контроль качества изготовления радиоэлектронной и микроэлектронной продукции по электрическим параметрам. Примеры оснащения предприятий, метрологическое и технологическое обеспечение»


В рамках семинара рассматривались особенности различных технологий тестирования изделий микроэлектроники. ООО «ЦИФ МГУ имени М.В. Ломоносова» представил доклад «Технология сигнатурного анализа для локализации неисправных компонентов» и продемонстрировал ручные системы поиска неисправных электронных компонентов на платах EyePoint S2. 


В линейке Eye Point представлены как ручные системы (S1, S2, u1, u2), так и автоматические системы (P10, B10, m10), предназначенные для поиска неисправных электронных компонентов. Подробнее о системах можно узнать на нашем сайте.